Inclusión de los efectos de sismo de fuente cercana en la norma de diseño sismorresistente peruana
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Fecha
2024-09-20
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Editor
Pontificia Universidad Católica del Perú
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Resumen
El estado del conocimiento de los sismos generados en fallas indica que en sitios
ubicados hasta 60 km se pueden generar picos en los registros de aceleración,
velocidad y/o desplazamiento. Esto se conoce como efectos de fuente cercana. En el
Perú, tenemos una gran cantidad de sistemas de fallas activas que podrían presentar
estos efectos.
Se revisó la manera en que distintas normas internacionales incluyen estos efectos en
los espectros de diseño. Se vio que la metodología establecida por el Uniform Building
Code (Structural Engineering Design Provisions - 1997) es la que se adecua al estado
del conocimiento de las fallas y sus efectos en el país en conjunto con la norma peruana
de diseño sismorresistente E.030-19.
Se adaptó la metodología del UBC-97 para la inclusión de los efectos de fuente cercana
en el espectro de diseño peruano. El procedimiento desarrollado consiste en encontrar
factores con los cuales afectar cada zona del espectro elástico de la norma para incluir
los efectos de fuente cercana.
La propuesta desarrollada ha hecho depender los factores de la zona sísmica, del perfil
del suelo, del tipo de fuente sísmica y de la distancia a la fuente. Se ha encontrado que
para la zona sísmica 4 y a una distancia de 2 km, estos factores están entre 1.3 y 1.1
para la región de periodos cortos del espectro en perfiles de suelo S0 a S3 y para la
zona de periodos largos los factores se encuentran entre 2.1 y 1.4 para estos mismos
perfiles de suelo. Para la zona sísmica 2, se ha encontrado que los factores de
amplificación en periodos cortos tendrían prácticamente el mismo rango, pero solo para
los perfiles S0 a S2, mientras que para periodos largos los factores serían de 2.1 a 1.1
y para perfiles S0 a S3.
Descripción
Palabras clave
Análisis estructural (Ingeniería)--Normas, Construcciones antisísmicas--Evaluación, Ingeniería antisísmica
Citación
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