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Determinación de la topografía superficial de películas delgadas de TiO2 y SiC mediante interferometría tipo Michelson
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016-11-23)
El presente trabajo de tesis propone un método para determinar la topografía superficial de muestras de películas delgadas de TiO2 y SiC, mediante el análisis de interferogramas con técnicas de interferometría de desplazamiento ...
Deposición mediante pulverización catódica y caracterización de películas delgadas de carburo de silicio (SiC) sobre sustrato de acero
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2019-05-06)
Una forma de mejorar la resistencia al desgaste de la superficie del acero podría ser a
través del recubrimiento de películas delgadas de SiC. El carburo de silicio (SiC), cerámico
con excelente dureza, alta resistencia ...
Síntesis y caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio hidrogenado (AlN:H)
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018-01-30)
El AlN:H es un material prometedor para la pasivación de superficie en celdas solares
de silicio con el fin de mejorar su eficiencia de conversión de potencia. La pasivación
superficial es la reducción de la tasa de ...
Determinación de constantes ópticas de películas delgadas dieléctricas por espectrofotometría de transmitancia óptica de ángulo variable
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2019-07-08)
Entre los varios métodos que existen para obtener los parámetros ópticos de películas delgadas, un grupo se centra en el uso de medidas espectrales de reflectancia y transmitancia óptica y otros en el uso de medidas de ...
Propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de Óxido de Indio dopadas con Estaño y Terbio
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018)
El efecto del dopaje de terbio sobre las propiedades ópticas, eléctricas y luminiscentes de películas
delgadas de óxido de indio dopadas con estaño fue estudiado para distintas temperaturas de
recocido. Las películas ...
Degradación de las propiedades ópticas de películas semiconductoras amorfas de nitruro de silicio a-SiN producidas por pulverización catódica de radiofrecuencia
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2015-07-13)
En el presente trabajo se encuentran compilados el estudio de propiedades ópticas y vibracionales de películas delgadas amorfas de nitruro de silicio depositadas bajo diferentes presiones de trabajo. Las películas han sido ...
Determinación de las constantes ópticas y el espesor de películas delgadas semiconductoras depositadas por pulverización catódica de radio frecuencia sobre substratos ligeramente abosorbentes en la región visibles
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2013-02-05)
En este trabajo se describe el método de Swanepoel (1983) [1] y el método propuesto por Guerra J A (2010) [2] para caracterizar películas delgadas usando sólo el espectro de transmitancia óptica. La película es caracterizada ...
Preparation and characterization of sputtered hydroxyapatite thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018-01-19)
In this work, hydroxyapatite (HAp) thin films were fabricated using two different
sputtering techniques: Radio frequency magnetron sputtering and ion beam sputtering. In
the first case, the films were grown on Ti-6Al-4V ...
Efectos de la difusión sobre la luminiscencia de iones de terbio en una matriz basada en silicio durante el proceso de activación térmica
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2019-06-04)
Los semiconductores dopados con tierras raras presentan gran interés de estudio
científico debido a sus prometedoras aplicaciones en dispositivos optoelectrónicos, donde ya han encontrado múltiples aplicaciones como ...
Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas semiconductoras de bajas temperaturas
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-05-25)
Un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas a bajas temperaturas fue implementado empleando un sistema criogénico de ciclo cerrado de helio, un sistema de control de temperatura y un sistema de ...