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Implementation of a four probes measuring system to determine the resistivity of thin films with temperature dependence
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-06-19)
Resistivity measurements in thin film samples depending on the temperature and on the
lm thickness is always a subject of interest, above all when it comes to new materials.
This work presents the implementation of a ...
Propiedades luminiscentes y estructurales de las películas delgadas de oxinitruro de aluminio dopado con iterbio obtenidas por metodologías combinatorias
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018-04-16)
En el presente trabajo se investiga la emisión de luz y la estructura de una librería de películas delgadas de ALOxNy dopadas con Yb depositada sobre Si con la técnica de pulverización catódica por radio frecuencia a través ...
Determination of the optical bandgap of thin amorphous (SiC) 1-x (AIN) x films produced by radio frequency dual magnetron sputtering
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016-06-21)
Películas delgadas amorfas semiconductoras de amplio ancho de banda del compuesto pseudobinario (SiC)1-x(AlN)x fueron depositadas por pulverización por un sistema de dos magnetrones de radio frecuencia sobre CaF2, MgO, ...
Optical characterization and bandgap engineering of flat and wrinkle-textured FA0.83 Cs0.17 Pb(I1 − xBrx)3 perovskite thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018-03-26)
Los índices de refracción complejos de películas delgadas de perovskitas de haluros mixtos de formamidinio-cesio de plomo (FA0.83Cs0.17Pb(I1 − xBrx)3), con composiciones variando de x = 0 a 0.4, y para topografías planas ...
Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica en películas delgadas semiconductoras por el método de Van der Pauw
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-05-25)
La resistividad eléctrica es una propiedad física intrínseca e independiente del tamaño o forma de un material, que nos da información acerca de cómo se comporta el material al paso de la corriente eléctrica. Por el valor ...
Preparation and characterization of sputtered hydroxyapatite thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018-01-19)
In this work, hydroxyapatite (HAp) thin films were fabricated using two different
sputtering techniques: Radio frequency magnetron sputtering and ion beam sputtering. In
the first case, the films were grown on Ti-6Al-4V ...
Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas semiconductoras de bajas temperaturas
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-05-25)
Un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas a bajas temperaturas fue implementado empleando un sistema criogénico de ciclo cerrado de helio, un sistema de control de temperatura y un sistema de ...
Effect of thermal annealing treatments on the optical and electrical properties of aluminum-doped, amorphous, hydrogenated silicon carbide thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2019-07-04)
In this work, a systematic study of the structural, optical and electrical properties of aluminum doped hydrogenated amorphous silicon carbide (Al-doped a-SiC:H) thin films grown by radio frequency magnetron sputtering is ...
Deposición mediante pulverización catódica y caracterización de películas delgadas de carburo de silicio (SiC) sobre sustrato de acero
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2019-05-06)
Una forma de mejorar la resistencia al desgaste de la superficie del acero podría ser a
través del recubrimiento de películas delgadas de SiC. El carburo de silicio (SiC), cerámico
con excelente dureza, alta resistencia ...
Determinación de la topografía superficial de películas delgadas de TiO2 y SiC mediante interferometría tipo Michelson
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016-11-23)
El presente trabajo de tesis propone un método para determinar la topografía superficial de muestras de películas delgadas de TiO2 y SiC, mediante el análisis de interferogramas con técnicas de interferometría de desplazamiento ...