Browsing Vol. 34 Núm. 1-2 (2020) by Subject "Tensión"
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Textura y Estrés: las aplicaciones olvidadas de la Difracción de Rayos X en materiales
(Pontificia Universidad Católica del PerúPE, 2020-09-14)X-ray crystallography result constitutes a fundamental analytical technique for the thorough study of the crystalline structure of materials. Despite to its enormous relevance at both scientific and industrial level, the ...