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Implementation of a four probes measuring system to determine the resistivity of thin films with temperature dependence
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-06-19)
Resistivity measurements in thin film samples depending on the temperature and on the
lm thickness is always a subject of interest, above all when it comes to new materials.
This work presents the implementation of a ...
Integration of a visual tracking system into a four probe measuring system to evaluate the electrical sheet resistance of thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-07-13)
En los últimos años, las películas delgadas han sido ampliamente estudiadas debido a la
amplia gama de aplicaciones técnicas que presentan, algunas de las cuales están
determinadas por sus propiedades eléctricas tales ...