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Optical characterization and bandgap engineering of flat and wrinkle-textured FA0.83 Cs0.17 Pb(I1 − xBrx)3 perovskite thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018-03-26)
Los índices de refracción complejos de películas delgadas de perovskitas de haluros mixtos de formamidinio-cesio de plomo (FA0.83Cs0.17Pb(I1 − xBrx)3), con composiciones variando de x = 0 a 0.4, y para topografías planas ...
Propiedades luminiscentes y estructurales de las películas delgadas de oxinitruro de aluminio dopado con iterbio obtenidas por metodologías combinatorias
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018-04-16)
En el presente trabajo se investiga la emisión de luz y la estructura de una librería de películas delgadas de ALOxNy dopadas con Yb depositada sobre Si con la técnica de pulverización catódica por radio frecuencia a través ...
Determinación de constantes ópticas de películas delgadas dieléctricas por espectrofotometría de transmitancia óptica de ángulo variable
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2019-07-08)
Entre los varios métodos que existen para obtener los parámetros ópticos de películas delgadas, un grupo se centra en el uso de medidas espectrales de reflectancia y transmitancia óptica y otros en el uso de medidas de ...
Degradación de las propiedades ópticas de películas semiconductoras amorfas de nitruro de silicio a-SiN producidas por pulverización catódica de radiofrecuencia
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2015-07-13)
En el presente trabajo se encuentran compilados el estudio de propiedades ópticas y vibracionales de películas delgadas amorfas de nitruro de silicio depositadas bajo diferentes presiones de trabajo. Las películas han sido ...
Determinación de las constantes ópticas y el espesor de películas delgadas semiconductoras depositadas por pulverización catódica de radio frecuencia sobre substratos ligeramente abosorbentes en la región visibles
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2013-02-05)
En este trabajo se describe el método de Swanepoel (1983) [1] y el método propuesto por Guerra J A (2010) [2] para caracterizar películas delgadas usando sólo el espectro de transmitancia óptica. La película es caracterizada ...
Propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de Óxido de Indio dopadas con Estaño y Terbio
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2018)
El efecto del dopaje de terbio sobre las propiedades ópticas, eléctricas y luminiscentes de películas
delgadas de óxido de indio dopadas con estaño fue estudiado para distintas temperaturas de
recocido. Las películas ...
Determinación de constantes espectroscópicas por técnicas computacionales a partir de espectros de absorción infrarroja por transformada de Fourier
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016-11-08)
Se plantea la búsqueda de un algoritmo eficaz que corrija las oscilaciones por encima del
100% que aparecen por la superposición de las reflexiones internas en la transmitancia
del sistema sustrato película delgada en ...
Optical characterization and thermal activation of Tb doped amorphous SiC, AlN and SiN thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-08-10)
En la presente tesis se evalúan las propiedades ópticas y las características de emisión de luz de películas delgadas amorfas de AlN, SiN y SiC:H dopadas con Tb. La caracterización óptica se centra en la determinación del ...