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Implementation of a four probes measuring system to determine the resistivity of thin films with temperature dependence
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-06-19)
Resistivity measurements in thin film samples depending on the temperature and on the
lm thickness is always a subject of interest, above all when it comes to new materials.
This work presents the implementation of a ...
Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica en películas delgadas semiconductoras por el método de Van der Pauw
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-05-25)
La resistividad eléctrica es una propiedad física intrínseca e independiente del tamaño o forma de un material, que nos da información acerca de cómo se comporta el material al paso de la corriente eléctrica. Por el valor ...
Integration of a visual tracking system into a four probe measuring system to evaluate the electrical sheet resistance of thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-07-13)
En los últimos años, las películas delgadas han sido ampliamente estudiadas debido a la
amplia gama de aplicaciones técnicas que presentan, algunas de las cuales están
determinadas por sus propiedades eléctricas tales ...
Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas semiconductoras de bajas temperaturas
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-05-25)
Un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas a bajas temperaturas fue implementado empleando un sistema criogénico de ciclo cerrado de helio, un sistema de control de temperatura y un sistema de ...
FEM simulation of residual stresses of thin films for applications in MEMS
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-06-19)
In MEMS sensors, such as resonators based on cantilever and doubly-clamped beams, the presence of residual stresses in the thin films disrupt their mechanical properties or eigenfrequencies and, in some cases, can destroy ...
Optical characterization and thermal activation of Tb doped amorphous SiC, AlN and SiN thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-08-10)
En la presente tesis se evalúan las propiedades ópticas y las características de emisión de luz de películas delgadas amorfas de AlN, SiN y SiC:H dopadas con Tb. La caracterización óptica se centra en la determinación del ...
Construction and implementation of a 4-probe measuring system to determinate the temperature dependent sheet resistance of thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017-04-12)
In order to build machines, electronic devices, it is necessary to know all properties of the materials.
The machines and electronic devices use parts that are interconnected, the mechanical properties
are important, but ...