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Determinación de las constantes ópticas y el espesor de películas delgadas semiconductoras depositadas por pulverización catódica de radio frecuencia sobre substratos ligeramente abosorbentes en la región visibles
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2013-02-05)
En este trabajo se describe el método de Swanepoel (1983) [1] y el método propuesto por Guerra J A (2010) [2] para caracterizar películas delgadas usando sólo el espectro de transmitancia óptica. La película es caracterizada ...
Optical and luminiscent properties of terbium / ytterbium doped aluminum oxynitride and terbium doped aluminum nitride thin films
(Pontificia Universidad Católica del Perú, 2020-08-06)
In the present thesis the optical and light emission properties of two systems consisting of Tb3+ and Yb3+ doped amorphous AlOxNy thin films and Tb3+ doped polycrystalline AlN thin films were analyzed. In the two ions system, ...